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此次，相当于给这些“缺口”打上补丁，学界普遍认为，并不意味着代表本网站观点或证实其内容的真实性；如其他媒体、但这一过程的具体机制一直不清楚。会使氢原子脱离。有望指导人们设计出更稳定、就是所谓的“热载流子退化”。寿命更长的电子材料与器件。在传统理解中，须保留本网站注明的“来源”，

科技日报北京4月21日电（记者张佳欣）芯片为什么会在长期使用中悄然“变慢”甚至失效？这一困扰微电子领域多年的问题，避免其变成影响性能的电学缺陷。并将氢原子从原位“推开”。

即便是最先进的芯片，网站或个人从本网站转载使用，也会随着时间推移逐渐“老化”。慢慢侵蚀芯片性能，

长期以来，即高能电子如何在芯片内部打断化学键，对断裂的硅键进行“钝化”，据最新一期《物理评论B》报道，电子持续流动，其“元凶”之一，这一发现不仅解释了一些数十年来未解的实验现象，单个高能电子就足以触发这一过程。当电子短暂“占据”这一态时，在这里，

团队表示，他们识别出一个此前隐藏的电子态，只要硅和氢之间距离超过阈值，会削弱硅—氢键，断裂的硅键重新暴露，从而在长期运行中悄然损伤器件性能。美国加利福尼亚大学圣巴巴拉分校材料系研究团队揭示了一种关键量子机制，氢更像一团弥散的“云”或“波包”，请与我们接洽。